『壹』 菲涅爾波帶片
菲涅爾波帶片既有會聚透鏡的作用,又有發散透鏡的作用,是由透明和不透明圓環交替組成,適用於遠程通信、光測距和宇航技術中。
菲涅爾波帶片是利用光的衍射原理來聚光的,從物點發岩兆判出的光波粗改經過各個波帶片衍射時,到達像點的位相差猜前為2*pi的整數倍,產生相長疊加,光波衍射有多個主極大,菲涅爾波帶片自然也就有多個焦點了。
優點
波帶片與透鏡相比具有面積大、輕便、可折疊等優點,特別適用於遠程通信、光測距和宇航技術中。波帶片的焦距隨波長的增加而縮短,這恰巧與玻璃透鏡的焦距色差相反,兩者配合使用有利於消色差。利用衍射規律有意改變波陣面,以造成人們所需要的衍射場,這在經典光學中菲涅耳波帶片是一傑作。
以上內容參考:網路-波帶片
『貳』 電子衍射分析
電子束不是電磁波,而是物質波,但是它與X射線的性質類似,波長接近。1927年C.J.Davisson&L.H.Germer在電子顯微鏡問世前就發現了電子衍射現象,其原理與X射線衍射的原理基本相同,所獲得的衍射花樣也很相似。電子衍射產生的花樣大多呈規則排列的點狀(單晶),有時也呈同心圓狀(多晶)。電子衍射與X射線衍射的區別是:①由於電子束波長更短,在同一張圖像上電子衍射所得到的信息比X射線衍射的信息多;②電子衍射的強度要比X射線衍射的強度大得多,適用於對晶體微粒、表面和薄膜進行分析。現在,在透射電鏡中插入一選區光闌便能獲得單晶的衍射花樣(請參閱本章第二節)。
電子背散射衍射(Electron Backscatter Diffraction,縮寫為EBSD)是20世紀70年代提出,80年代發展成為一種實用的測試手段,並推出商品器材的。電子背散射衍射得到的圖像稱為電子背散射花樣(Electron Backscatter Pattern,縮寫為EBSP)。
上述X射線衍射以及電子衍射的激發源都是平行光,而電子背散射衍射是電子束進入樣品後激發出的背散射電子以各個方向射向晶體後產生的。其花樣由黑白成對的線條組成,如圖5-9中熒光屏上所示,每個線條對應於一個面網。
圖5-9 電子背散射衍射部件示意圖
為了獲得電子背散射衍射花樣,必須在掃描電鏡中安裝EBSD部件(圖5-9)。樣品不能太薄,以便產生較多的背散射電子,通常製成光片,表面還須消除研磨和拋光產生的應力。安裝時使樣品表面與電子束成30°相交。
1993年以後生產的EBSD部件可以對衍射花樣自動檢索,進行物相鑒定,還可測定樣品中各個晶粒的取向,進行微織構測定(microtexture determination),獲得取向圖(orientation image)。