㈠ 渦流式測厚儀怎麼校正
以下節選自中科朴道的《PD-CT2塗層測厚儀說明書》:
零點校準:
首次使用儀器或在不同性質(材質、厚度、曲率、表面粗糙度)的基
體上進行測量時應重新對儀器進行零點校準,當校準使用的基體與待測試
件基體性質偏差較大時,測量值將會產生偏差。
a) 使用儀器附送的基體對儀器進行零點校準,
b) 將儀器附送的標准試片放置在基體上,對其進行測量,觀察測量數值
是否符合儀器精度的要求;
c) 如果測量數值偏差較大,超出儀器精度的要求,則可參照3.3.4對儀器
進行基本校準;
d) 如果測頭磨損很嚴重,重新進行基本校準後仍然無法滿足測量精度的
要求,則需要更換測頭。
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說明:
1) 進行零點校準時,應使用基體靠近中間的部位;
2) 對標准片進行測量時,應盡量使用標准片有效區域靠近中間的位置;
3) 將多個標准片疊加在一起進行測量時,應將各標准片的標簽部分成90
度或180度錯開放置
基本校準:
當出現以下問題導致測量曲線偏離時需要重新進行基本校準:
a) 更換測頭;
b) 測頭頂端被磨損;
c) 測頭修理後;
d) 特殊用途。
基本操作方法如下:
a) 開機時一直按住
鍵,直到進入基本校準模式;
b) 通過
鍵選擇測頭類型,屏幕右上方顯示標志「F」時表示將對
F型磁性測頭進行基本校準,屏幕右上方顯示標志「N」時表示將
對N型非磁性測頭進行基本校準;
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INFINITY: F
13536 0600
us
[OK]下一步
INFINITY: N
405.46
[OK]下一步
us
基本校準界面 – 磁性測頭 基本校準界面 – 非磁測頭
c) 校準無窮遠(INFINITY):使測頭遠離(10厘米以上)基體以及
任何金屬物體,待屏幕中央的讀數穩定後按
鍵確認,對於F
型測頭,其讀數應在13500~13550之間,如果讀數不在此范圍內,
請按
鍵進行測頭匹配;對於N型測頭,其讀數應在395~430
之間,如果讀數不在此范圍內,請聯系客服更換測頭;
d) 校準零點(ZERO):將測頭緊貼基體,待屏幕中央的讀數變化後
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立刻按
鍵確認,然後提起測頭。對於F型測頭,其讀數應在
7000~10000之間,對於N型測頭,其讀數應在370~390之間;
ZERO: F
13536 us
[OK]下一步
ZERO: F
8906 us
[OK]下一步
校準零點界面 – 測量前 校準零點界面 – 測量後
e) 使用標准片,按厚度增加的順序依次校準5~10個厚度校準點,各
個厚度的測量讀數應依次遞增:
i. 通過
或 鍵調節屏幕上方顯示的厚度值,使其與校準
試片厚度相同;
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P0: 50.0 um F
13536 us
↑+↓- [OK]下一步
P0: 48.0 um F
13536 us
↑+↓- [OK]下一步
校準標准片界面 校準標准片 – 調整標准片厚度
ii. 測量校準試片,待屏幕中央顯示的讀數穩定後按
鍵確認,
或按
鍵跳過該校準點,然後提起測頭;
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P0: 50.0 um F
9536 us
↑+↓- [OK]下一步
P1: 100 um F
13536 us
↑+↓- [OK]下一步
校準標准片 – 測量後 校準下一厚度
f) 待測量完全部校準點後,屏幕上會依次顯示各個校準點的信息,
並在屏幕下方顯示「PASS」或「FAIL」標志表示校準成功或失敗,
鍵
待校準信息全部顯示後,可按
鍵進入測量界面,或按
將本次校準結果存為默認設置,存為默認設置後使用恢復默認功
能時將自動讀取本次的校準信息。
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㈡ 測厚儀怎麼用啊
測厚儀可以用來在線測 量軋制後的板帶材厚度,並以電訊號的形式輸出。該電訊號輸給顯示器和自動厚度控制系統,以實現對板帶厚度的自動厚度控制(AGC)。 目前常見的測厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種,其安放位置均在板帶軋機的出口或入 口側。設計、安裝測厚儀時要在可能的條件下盡量靠近工作輥,目的是降低板厚的滯後調整時間。
⒈在進行測試的時候要注意標准片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大於這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恆定,否則會影響測量的讀數。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。
產品應用:
1、激光測厚儀是利用激光的反射原理,根據光切法測量和觀察機械製造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度,是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數字信號與工業計算機相連接,並迅速處理數據並輸出偏差值到各種工業設備。
2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,滄州歐譜從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心,採集計算數據並輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統,達到要求的軋制厚度。主要應用行業:有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加工。
3、紙張測厚儀:適用於4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
4、薄膜測厚儀:用於測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度高,具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。
5、塗層測厚儀:用於測量鐵及非鐵金屬基體上塗層的厚度.
6、超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的,當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恆定速度在其內部傳播的各種材料均可採用此原理測量。
揚州市源峰試驗機械廠是專業從事材料試驗研究與材料試驗機製造的企業,是國內較大的材料試驗機製造商。公司產品手提橡塑測厚儀,可隨身攜帶,手持測量,適用於車間現場測定。
㈢ TT100超聲波測厚儀測量碳鋼時,校正能校到4.0,但是測量不銹鋼時將聲速設為5740m/s,校正就是3.8
測量碳鋼是4.0說明機器探頭是准確的,所以不是機器的毛病。
測量不銹鋼的版時候你可以先用千權分尺卡下厚度是否是4.如果是你可以利用反側發測出來這個試件的聲速,如果是5740,那麼說明這個試塊是好的;
如果速度不是5740,說明你選用的不銹鋼試塊本事有問題,有可能裡面的材質不均勻,建議換一個不銹鋼試塊再試下。
㈣ 超聲波測厚儀的校驗方法
超聲波測厚儀的兩種校準方法是,用標准塊校準和聲速校準兩種,其中標准塊校準又分為一點校準,兩點校準兩種。
一點校準是在兩點方法為關的狀態下進行的,當兩點為關時候按住CAL/ON鍵,CAL開始閃爍,期間使探頭與校準基準塊耦合,待耦合指示燈亮,即讀數穩定。此時顯示值可能與校準試塊的已知厚度不匹配。此時可讓探頭保持耦合,也可取下探頭。用上下按鈕調節顯示值,使之與校準試塊的厚度一致,然後在按CAL/ON鍵,完成校準。
兩點校準:兩點校需要按MODE鍵,直到顯示雙點校準,按CAL/ON顯示其當前狀態,用上下調節按鈕啟動2-PT,再按CAL/ON,此時指示燈開始閃爍,出現「LO」(薄)校準的提示,將探頭與校準基準塊耦合,待耦合指示燈亮,即讀數穩定。可讓探頭保持耦合,也可取下探頭。用上下按鈕調節顯示值,使之與校準試塊的厚度一致,然後在按CAL/ON鍵,出現「HI」(厚)校準的提示,將探頭與校準基準塊耦合,待耦合指示燈亮,即讀數穩定。用上下按鈕調節顯示值,使之與校準試塊的厚度一致,然後按CAL/ON鍵,即完成雙點校準。參考:超聲波測厚儀
㈤ 測厚儀使用方法是什麼
測厚儀(thickness gauge )是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,放射測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,超聲波測厚法。
測量注意事項:
⒈在進行測試的時候要注意標准片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大於這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恆定,否則會影響測量的讀數。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。
㈥ 鍍鋅層測厚儀如何校準呢
1、按住開關機鍵不鬆手直到顯示器出現」CAL」(此過程大約需要4秒鍾),顯示器會顯示」F:H」,此時輕按校零鍵確認(探頭一定要懸空)
2、按住開關機鍵不鬆手直到顯示器出現」Ln」 (此過程大約需要9秒鍾)顯示器會出現」0.8XX」的數字,如果在測試中發現數據偏大,也就是說127um正確,而420um左右的膜片偏大,可將該數字加大(用」+」鍵),反之將該數字減小(用」-「鍵).大約該數字每加大0.001,420um左右會相應減小2um.然後按校零鍵確認. (探頭一定要懸空)
3、無論是操作一步和第二步結束後,均應在操作結束後重新校零.
注意感測器插頭的方法.開機後將探頭壓到鐵基上,輕按校零鍵.將標准膜片(127um左右)放到鐵基上,如測量結果不在127um左右,可通過加減鍵調整.127um左右膜片調整後,分別測量52um和420um左右的膜片,看是否在允許誤差范圍內.如果發現所有膜片值基本正確,則校準成功.
㈦ 超聲波測厚儀正確校準步驟是怎樣呢
1.選用與被測物的資料、聲速及曲率一樣的兩個規范試塊,其中一個試塊的厚度等於或略高於測量范疇的下限,另一個試塊的厚度盡可能接近測量范疇的上限,履行二點校準可以提升測量精度.
2. 超聲波測厚儀履行二點校準之前應先關掉zui小值捕捉性能。
操作如下:選用性能菜單存儲控制中的刪除校準數據功然後將二點校準功能關上。
3.超聲波測厚儀校準前一定要刪除以前的校準數據
操作如下:選用性能菜單存儲控制中的刪除校準數據功然後將二點校準功能關上
4.打開二點校準功能。
5.按鍵前往到主顯示界面。
屏幕提示校準薄片ThinCalibration。
然後按鍵屏幕提示校準厚片ThickCalibration.
6. 超聲波測厚儀在測量厚度的狀況下按進入兩點校準方式,
屏幕提示校準薄片ThinCalibration。
7.測量薄片。用或調整測量值到規范值。
然後按鍵屏幕提示校準厚片ThickCalibration.
8.測量厚片。用或調整測量值到標准值。
9. 超聲波測厚儀按鍵兩點校準好了,即可履行測量形態。
注意:測量管材時,由於聲阻抗的相配和耦合的情況會影響測量誤差,為了zhun確測量管材的厚度,在測量管材時咱們盡量選用與被測物的材質、聲速及曲率一樣的兩個規范試塊履行二點校準。