測量設備的控制限是怎麼算的

❶ 控制圖的上下控制限在哪些情況下要重新計算

在一個過程的控制限固定下來後，不能隨意調整，只有當該過程的5M1E中有比較大的調整時，才考慮重新收集數據，計算新的控制限。

❷ 控制圖上下控制界限的怎麼確定

控制圖上下控制界限通常設定在±3標准差的位置。

圖上有三條平行於橫軸的直線：中心線（CL，Central Line）、上控制線（UCL，Upper Control Line）和下控制線（LCL，Lower Control Line），並有按時間順序抽取的樣本統計量數值的描點序列。

UCL、CL、LCL統稱為控制線（Control Line），通常控制界限設定在±3標准差的位置。中心線是所控制的統計量的平均值，上下控制界限與中心線相距數倍標准差。若控制圖中的描點落在UCL與LCL之外或描點在UCL和LCL之間的排列不隨機，則表明過程異常。

根據統計數據的類型不同，控制圖可分為：計量控制圖和計數控制圖（包括計件控制圖和計點控制圖）。它們分別適用於不同的生產過程。每類又可細分為具體的控制圖，最初主要包含七種基本圖表。

一、計量型控制圖包括：

1、 IX-MR（單值移動極差圖）

2、 Xbar-R（均值極差圖）

3 、Xbar-s（均值標准差圖）

二、計數型控制圖包括：

1、 P（用於可變樣本量的不合格品率）

2、 Np（用於固定樣本量的不合格品數）

3、 u（用於可變樣本量的單位缺陷數）

4、c（用於固定樣本量的缺陷數）

利用樣本的平均值及極差R推斷總體的μ和σ時，由於總體構成的不均勻性以及抽樣誤差的存在，及R的變化同μ及σ的變化並不完全一樣，即使在工序處於穩定狀態下，μ及σ本身並無異常變化，但從工序中抽取樣本的及R也是有所變化的也就是說，及R 都是隨機變數，都有其特定的概率分布。

它們各自的概率分布與總體分布既有一定的內在聯系，又與總體分布不完全相同。在過程式控制制中，雖然通常依據一次抽樣的結果進行一次統計推斷，但由此所得出的結論卻是建立在大量觀測結果所遵循的統計規律的基礎上的，是依樣本統計量的概率分布來描述總體概率分布過程的。

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為了方便記憶，下面總結了控制圖判異的八個准則：

1、准則1：1個點子落在A區以外（點子越出控制界限）；

2、准則2：連續9點落在中心線同一側；

3、准則3：連續6點遞增或遞減；

4、准則4：連續14點中相鄰點子總是上下交替；

5、准則5：連續3點中有2點落在中心線同一側B區以外；

6、准則6：連續5點中有4點子落在中心線同一側C區以外；

7、准則7：連續15點落在中心線同兩側C區之內；

8、准則8：連續8點落在中心線兩側且無1點在C區中。

❸ 儀器的允許誤差值怎麼定

允許誤差為絕對誤差的最大值，儀表量程的最小分度應不小於最大允許誤差。技術標准,檢定規程等對計量器具所規定的允許的極限值。

最大允許誤差：對給定的測量儀表，規范、規程等所允許的誤差極限值。指在規定的參考條件下，測量儀器在技術標准、計量檢定規程等技術規范上所規定的允許誤差的極限值。

這里是誤差極限值，所以實際上就是測量儀器各計量性能所要求的最大允許誤差值。可簡稱為最大允許誤差，也可稱為測量儀器的允許誤差限。最大允許誤差可用絕對誤差、相對誤差或引用誤差等來表述。

多量程的儀器，按照各量程的准確度等級分別進行計算，如：

「0~300mv 的精度為 0.025%+2digits 」的允差為300*0.025%+2個讀數（看實際分辨力而定）mV

「300mv~3V的精度為 0.025%+4digits」的允差為（3000-300）0.025%+4個讀數mV

其它量程的也是這樣進行計算。

(3)測量設備的控制限是怎麼算的擴展閱讀：

最大允許誤差可以用絕對誤差、相對誤差、引用誤差或它們的組合形式表示。

（一）用絕對誤差來表示最大允許誤差

例如，標稱值為1Ω的標准電阻，說明書指出最大允許誤差微±0.01Ω，即表示示值誤差的上限為+0.01Ω，示值誤差下限為－0.01Ω，表明還電阻器的電阻值允許在0.99Ω~1.01Ω范圍內。

（二）用相對誤差表示的最大允許誤差，是其絕對誤差與相應示值之比的百分數。

例如，測量范圍為1mV~10V的電壓表，氣允許誤差限為±1%。在這種情況下，測量范圍內每個示值的絕對允許誤差限是不同的，如1V時，為±1%×1V=±0.01V，而10V時，為±1%×10V=±0.1V。

最大允許誤差總相對誤差形式表示，有利於在整個測量范圍內的技術指標用一個誤差限來表示。

❹ QC七大手法 控制圖中的上下限 是怎麼計算出來的

不同的管理圖管理上下線不同
X-R管理圖中x的
上限=總平均+A2*R平均
下限=總平均-A2*R平均
A2的值根據定數表查值。
R管理圖的
上限為D4*R平均
下線為D3*R平均
D3,D4根據定數表查值

❺ SPC控制圖中的控制上限是怎麼計算的

請參考下圖，根據你的具體情況，查詢系數表計算後得到你要的控制限。

❻ SPC控制圖中的控制上限是怎麼計算的

對於計量值來說，是平均值加3倍sigma!

❼ 根據CPK=1.67 怎樣計算控制限或控制限的計算公式

公差上限 USL 100.40 輸入上限值
公差下限 LSL 100.00 輸入下限值
規格中心 U (USL+LSL)/2 100.2
規格公差 T USL-LSL 0.4
平均值 X Average(B2:F26) 100.23
標准差 σ STDEV(B2:F26) 0.06
最大值 Max MAX(B2:F26) 100.34
最小值 Min Min(B2:F26) 100.00
CPKU ( USL-X ) / 3σ 0.91
CPKL ( X -LSL )/ 3σ 1.28
CPK Min(CPKU ,CPKL) 0.91
PPM (1-Norm.S.Dist(3*Cpk,ture))*1000000 3242
Cp 離散趨勢精確度 (USL-LSL) / 6σ 1.10
Ca 集中趨勢精確度 (X-U)/(T/2) 0.17
Cpk Cp * ( 1 - |Ca|) 0.91

❽ 請教：單邊規格的控制限怎麼計算啊

控制圖來源於實際過程，單從控制圖角度來說，跟規格限可以說是沒關系。
另外，Xbar-R控制圖是否合適，跟是否單邊規格，關系也不太緊，看你過程的產出、成本、效率、控制對象等。說白了還是來源過程的。如果用Xbar-R控制圖，計算方式不用變化的。
只有評估過程能力的時候才會考慮單邊規格或雙邊的影響，單邊和雙邊的計算方式略有差異，你可以查下就知道。最後談一點，個人理解控制圖主要針對生產企業來說的，客戶一般更關注過程能力，畢竟過程能力和最終交付關系最緊密

❾ 請教控制圖上下控制界限的確定

控制圖上下控制界限通常設定在±3標准差的位置。圖上有三條平行於橫軸的直線：中心線、上控制線和下控制線，並有按時間順序抽取的樣本統計量數值的描點序列。

UCL、CL、LCL統稱為控制線，通常控制界限設定在±3標准差的位置。中心線是所控制的統計量的平均值，上下控制界限與中心線相距數倍標准差。若控制圖中的描點落在UCL與LCL之外或描點在UCL和LCL之間的排列不隨機，則表明過程異常。

(9)測量設備的控制限是怎麼算的擴展閱讀

控制圖作用

在生產過程中，產品質量由於受隨機因素和系統因素的影響而產生變差；前者由大量微小的偶然因素疊加而成，後者則是由可辨識的、作用明顯的原因所引起，經採取適當措施可以發現和排除。當一生產過程僅受隨機因素的影響，從而產品的質量特徵的平均值和變差都基本保持穩定時,稱之為處於控制狀態。

此時,產品的質量特徵是服從確定概率分布的隨機變數，它的分布(或其中的未知參數)可依據較長時期在穩定狀態下取得的觀測數據用統計方法進行估計。分布確定以後，質量特徵的數學模型隨之確定。為檢驗其後的生產過程是否也處於控制狀態，就需要檢驗上述質量特徵是否符合這種數學模型。

為此，每隔一定時間，在生產線上抽取一個大小固定的樣本，計算其質量特徵，若其數值符合這種數學模型，就認為生產過程正常，否則，就認為生產中出現某種系統性變化，或者說過程失去控制。

這時，就需要考慮採取包括停產檢查在內的各種措施，以期查明原因並將其排除，以恢復正常生產，不使失控狀態延續而發展下去。 通常應用最廣的控制圖是W.A.休哈特在1925年提出的，一般稱之為休哈特控制圖。

參考資料來源：網路—控制圖