超聲波上mc什麼意思

1. 超聲波斜探頭 2.5mc 6*6 K3 K2 K1 什麼意思

2.5mc,應是2.5P
2.5P探頭頻率,超聲波探傷頻率0.5~10MHz之間，選擇范圍大。一般選擇頻率時應考慮以下因素:
(1) 由於波的繞射，使超聲波探傷靈敏度約為波長的一半，因此提高頻率，有利於發現更小的缺陷。
(2) 頻率高，脈沖寬度小，分辨力高，有利於區分相鄰缺陷。
(3) 頻率高，波長短，則半擴散角小，聲束指向性好，能量集中，有利於發現缺陷並對缺陷定位。
(4) 頻率高，波長短，近場區長度大，對探傷不利。
(5) 頻率增加，衰減急劇增加。
由以上分析可知，頻率的高低對探傷有較大的影響，頻率高，靈敏度和分辨力高，指向性好，對探傷有利；但近場區長度大，衰減大，又對探傷不利。實際探傷中要全面分析考慮各方面的因素，合理選擇頻率。一般在保證探傷靈敏度的前提下盡可能選用較低的頻率。
對於晶粒較細的鍛件、軋製件和焊接件等，一般選用較高的頻率，常用2.5~5MHz；對晶粒較粗大的鑄件、奧氏體鋼等宜選用較低的頻率，常用0.5~2.5MHz。如果頻率過高，就會引起嚴重衰減，屏幕上出現林狀回波，信噪比下降，甚至無法探傷。
6*6, 6*6mm,探頭晶片尺寸,晶片尺寸對探傷也有一定的影響，選擇晶片尺寸進要考慮以下因素：
（1） 晶片尺寸增加，半擴散角減少，波束指向性變好，超聲波能量集中，對探傷有利。
（2） 晶片尺寸增加，近場區長度迅速增加，對探傷不利。
（3） 晶片尺寸大，輻射的超聲波能量大，探頭未擴散區掃查范圍大，遠距離掃查范圍相對變小，發現遠距離缺陷能力增強。
以上分析說明晶片大小對聲束指向性、近場區長度、近距離掃查范圍和遠距離缺陷檢出能力有較大的影響。實際探傷中，探傷面積范圍大的工件時，為了提高探傷效率宜選用大晶片探頭；探傷厚度大的工件時，為了有效地發現遠距離的缺陷宜選用大晶片探頭；探傷小型工件時，為了提高缺陷定位定量精度宜選用小晶片探頭；探傷表面不太平整，曲率較低較大的工件時，為了減少耦合損失宜選用小晶片探頭。
K3 K2 K1 ,橫波斜頭K值,在橫波探傷中，探頭的K值對探傷靈敏度、聲束軸線的方向，一次波的聲程（入射點至底面反射點的距離）有較大的影響。K值大，一次波的聲程大。因此在實際探傷中，當工件厚度較小時，應選用較大的K值，以便增加一次波的聲程，避免近場區探傷；當工件厚度較大時，應選用較小的K值，以減少聲程過大引起的衰減，便於發現深度較大處的缺陷。在焊縫探傷中，不要保證主聲束能掃查整個焊縫截面；對於單面焊根未焊透，還要考慮端角反射問題，應使K=0.7~1.5,因為K<0.7或K>1.5，端角反射很低，容易引起漏檢。

2. MC標志是什麼意思

是計量認證標志

計量認證標志是指取得計量認證合格證書的產品質量檢驗機構，按證書上所限定的檢驗項目， 在其商品檢驗證書（檢驗報告單上）所使用的專門標志。

使用計量認證標志時，應將標志的位置印在「產品檢驗證書」或「檢驗報告單」的左上方；並在標志下面標出認證合格證書編號。

(2)超聲波上mc什麼意思擴展閱讀：

1、標志的含義是「中華人民共和國計量器具許可證」。 外圈「C」表示「中國」的英文縮寫。 內圈「M」表示「計量器具」的英文縮寫。 內圈「C」表示「許可證」的英文縮寫。

2、標志的規格：「l 」表示外圈「C」缺口處的尺寸，在l前邊的數字是l的倍數，表示各處尺寸與缺口處尺寸的相對大小。採用此標志時，可根據實際情況將l放大或縮小。

3、標志的顏色自選 ：CMC是製造計量器具許可證標志， 是China Metrology Certification的英文縮寫，意為中國製造計量器具許可證。

取得製造計量器具許可證的企業，可在其生產的計量器具上標注CMC標志。該標志表明：計量器具製造企業具備生產能力計量器具的能力，所生產的計量器具准確度和可靠性等指標符合法制要求。