测厚仪测量不锈钢怎么校准

㈠ 涡流式测厚仪怎么校正

以下节选自中科朴道的《PD-CT2涂层测厚仪说明书》：

• 零点校准：

首次使用仪器或在不同性质(材质、厚度、曲率、表面粗糙度)的基
体上进行测量时应重新对仪器进行零点校准,当校准使用的基体与待测试
件基体性质偏差较大时,测量值将会产生偏差。

a) 使用仪器附送的基体对仪器进行零点校准,

b) 将仪器附送的标准试片放置在基体上,对其进行测量,观察测量数值
是否符合仪器精度的要求;

c) 如果测量数值偏差较大,超出仪器精度的要求,则可参照3.3.4对仪器
进行基本校准;

d) 如果测头磨损很严重,重新进行基本校准后仍然无法满足测量精度的
要求,则需要更换测头。

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说明:

1) 进行零点校准时,应使用基体靠近中间的部位;
2) 对标准片进行测量时,应尽量使用标准片有效区域靠近中间的位置;
3) 将多个标准片叠加在一起进行测量时,应将各标准片的标签部分成90

度或180度错开放置

• 基本校准：

当出现以下问题导致测量曲线偏离时需要重新进行基本校准:
a) 更换测头;
b) 测头顶端被磨损;
c) 测头修理后;

d) 特殊用途。
基本操作方法如下:
a) 开机时一直按住
键,直到进入基本校准模式;
b) 通过
键选择测头类型,屏幕右上方显示标志“F”时表示将对

F型磁性测头进行基本校准,屏幕右上方显示标志“N”时表示将
对N型非磁性测头进行基本校准;

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INFINITY: F

13536 0600
us

[OK]下一步

INFINITY: N

405.46
[OK]下一步

us

基本校准界面 – 磁性测头 基本校准界面 – 非磁测头
c) 校准无穷远(INFINITY):使测头远离(10厘米以上)基体以及

任何金属物体,待屏幕中央的读数稳定后按
键确认,对于F
型测头,其读数应在13500~13550之间,如果读数不在此范围内,
请按
键进行测头匹配;对于N型测头,其读数应在395~430
之间,如果读数不在此范围内,请联系客服更换测头;

d) 校准零点(ZERO):将测头紧贴基体,待屏幕中央的读数变化后

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立刻按
键确认,然后提起测头。对于F型测头,其读数应在
7000~10000之间,对于N型测头,其读数应在370~390之间;

ZERO: F

13536 us
[OK]下一步

ZERO: F

8906 us
[OK]下一步

校准零点界面 – 测量前 校准零点界面 – 测量后
e) 使用标准片,按厚度增加的顺序依次校准5~10个厚度校准点,各

个厚度的测量读数应依次递增:
i. 通过
或 键调节屏幕上方显示的厚度值,使其与校准

试片厚度相同;

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P0: 50.0 um F

13536 us
↑+↓- [OK]下一步

P0: 48.0 um F

13536 us
↑+↓- [OK]下一步

校准标准片界面 校准标准片 – 调整标准片厚度
ii. 测量校准试片,待屏幕中央显示的读数稳定后按
键确认,

或按
键跳过该校准点,然后提起测头;

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P0: 50.0 um F

9536 us
↑+↓- [OK]下一步

P1: 100 um F

13536 us
↑+↓- [OK]下一步

校准标准片 – 测量后 校准下一厚度
f) 待测量完全部校准点后,屏幕上会依次显示各个校准点的信息,

并在屏幕下方显示“PASS”或“FAIL”标志表示校准成功或失败,

键

待校准信息全部显示后,可按
键进入测量界面,或按
将本次校准结果存为默认设置,存为默认设置后使用恢复默认功
能时将自动读取本次的校准信息。

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㈡ 测厚仪怎么用啊

测厚仪可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。

⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。

⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。

⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

产品应用：

1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。

2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。

3、纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

4、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

5、涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.

6、超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

扬州市源峰试验机械厂是专业从事材料试验研究与材料试验机制造的企业，是国内较大的材料试验机制造商。公司产品手提橡塑测厚仪，可随身携带，手持测量，适用于车间现场测定。

㈢ TT100超声波测厚仪测量碳钢时，校正能校到4.0，但是测量不锈钢时将声速设为5740m/s，校正就是3.8

测量碳钢是4.0说明机器探头是准确的，所以不是机器的毛病。
测量不锈钢的版时候你可以先用千权分尺卡下厚度是否是4.如果是你可以利用反侧发测出来这个试件的声速，如果是5740，那么说明这个试块是好的；
如果速度不是5740，说明你选用的不锈钢试块本事有问题，有可能里面的材质不均匀，建议换一个不锈钢试块再试下。

㈣ 超声波测厚仪的校验方法

超声波测厚仪的两种校准方法是，用标准块校准和声速校准两种，其中标准块校准又分为一点校准，两点校准两种。

一点校准是在两点方法为关的状态下进行的，当两点为关时候按住CAL/ON键，CAL开始闪烁，期间使探头与校准基准块耦合，待耦合指示灯亮，即读数稳定。此时显示值可能与校准试块的已知厚度不匹配。此时可让探头保持耦合，也可取下探头。用上下按钮调节显示值，使之与校准试块的厚度一致，然后在按CAL/ON键，完成校准。

两点校准：两点校需要按MODE键，直到显示双点校准，按CAL/ON显示其当前状态，用上下调节按钮启动2-PT,再按CAL/ON，此时指示灯开始闪烁，出现“LO”（薄）校准的提示，将探头与校准基准块耦合，待耦合指示灯亮，即读数稳定。可让探头保持耦合，也可取下探头。用上下按钮调节显示值，使之与校准试块的厚度一致，然后在按CAL/ON键，出现“HI”（厚）校准的提示，将探头与校准基准块耦合，待耦合指示灯亮，即读数稳定。用上下按钮调节显示值，使之与校准试块的厚度一致，然后按CAL/ON键，即完成双点校准。参考：超声波测厚仪

㈤ 测厚仪使用方法是什么

测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

㈥ 镀锌层测厚仪如何校准呢

1、按住开关机键不松手直到显示器出现”CAL”(此过程大约需要4秒钟),显示器会显示”F:H”,此时轻按校零键确认(探头一定要悬空)

2、按住开关机键不松手直到显示器出现”Ln” (此过程大约需要9秒钟)显示器会出现”0.8XX”的数字,如果在测试中发现数据偏大,也就是说127um正确,而420um左右的膜片偏大,可将该数字加大(用”+”键),反之将该数字减小(用”-“键).大约该数字每加大0.001,420um左右会相应减小2um.然后按校零键确认. (探头一定要悬空)

3、无论是操作一步和第二步结束后,均应在操作结束后重新校零.

注意传感器插头的方法.开机后将探头压到铁基上,轻按校零键.将标准膜片(127um左右)放到铁基上,如测量结果不在127um左右,可通过加减键调整.127um左右膜片调整后,分别测量52um和420um左右的膜片,看是否在允许误差范围内.如果发现所有膜片值基本正确,则校准成功.

㈦ 超声波测厚仪正确校准步骤是怎样呢

1.选用与被测物的资料、声速及曲率一样的两个规范试块，其中一个试块的厚度等于或略高于测量范畴的下限，另一个试块的厚度尽可能接近测量范畴的上限，履行二点校准可以提升测量精度.
2. 超声波测厚仪履行二点校准之前应先关掉zui小值捕捉性能。
操作如下：选用性能菜单存储控制中的删除校准数据功然后将二点校准功能关上。
3.超声波测厚仪校准前一定要删除以前的校准数据
操作如下：选用性能菜单存储控制中的删除校准数据功然后将二点校准功能关上
4.打开二点校准功能。
5.按键前往到主显示界面。
屏幕提示校准薄片ThinCalibration。
然后按键屏幕提示校准厚片ThickCalibration.

6. 超声波测厚仪在测量厚度的状况下按进入两点校准方式，
屏幕提示校准薄片ThinCalibration。
7.测量薄片。用或调整测量值到规范值。
然后按键屏幕提示校准厚片ThickCalibration.
8.测量厚片。用或调整测量值到标准值。
9. 超声波测厚仪按键两点校准好了，即可履行测量形态。
注意：测量管材时，由于声阻抗的相配和耦合的情况会影响测量误差，为了zhun确测量管材的厚度，在测量管材时咱们尽量选用与被测物的材质、声速及曲率一样的两个规范试块履行二点校准。