设备能力指数多少合适

① 什么是CMK机器能力指数CMK是什么意思CMK计算公式与CPK区别

1、Cmk为临界机器能力指数，是德国汽车行业常采用的参数，是“Machine Capability Index” 的缩写。它仅考虑设备本身的影响，同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移；由于仅考虑设备本身的影响，因此在采样时对其他因素要严加控制，尽量避免其他因素的干扰。

2、机器能力指数：某设备加工某产品某尺寸，加工的一致性是其设备能力（CM）；若加以某公差条件，即能计算出设备能力指数CMK。

3、计算公式CMK=公差带(上差-下差) 除去6个西格玛×（1-偏移），西格玛=（实际值减中值）绝对值连加/N个数，SPC的西格玛：偏移简单=均值减中值/公差带。

4、CMK、CPK区别

CPK：强调的是过程固有变差和实际固有的能力，

CMK：考虑短期离散，强调设备本身因素对质量的影响；

CPK：分析前提是数据服从正态分布，且过程受控，

CMK：用于新机验收时、新产品试制时、设备大修后等情况；

CPK：至少1.33，

CMK：至少1.67；

CMK一般在机器生产稳定后约一小时内抽样10组50样本，

CPK在过程稳定受控情况下适当频率抽25组至少100个样本。

(1)设备能力指数多少合适扩展阅读：

对于能力调查必须确定特性和方法

机器能力：对于机器设备包括模具，在新购进使用以前应由机器和模具制造商或验收方验证其能力。

在下列特定情况下，必须与顾客商定： 新零件的订单， 新的模具/设备， 公差缩紧，加工流程/输入状态的更改，维修后（对产品有影响），机器搬迁后，长期停产以后

机器能力的证明应能提供给过程能力作评价。在能力调查时，机器应该同模具，必要时同一体化的检具和调整装置一起被视为一个实体。对于短期离散，能力指数至少应该Cmk=1.67。出现偏差时，必须规定纠正措施，措施完成后实施新的能力调查。

过程能力：对于产品质量有决定性影响的产品特性和过程参数，必须证明过程能力。原则上，所有的特性必须位于公差范围之内。对产品质量的重要特性必须加以规定，并且与顾客取得一致。如果对于重要特性，过程能力证明不了，则必须规定措施。

② 机械精度上的CPK值，是个什么概念

Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。
当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。
CPK值越大表示品质越佳。
Cpk——过程能力指数
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk应用讲议
1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp.
Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)
4. 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U). 规格公差T＝规格上限－规格下限；规格中心值U＝（规格上限+规格下限）/2；
8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (X为所有取样数据的平均值)
9. 依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值
10. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值
11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）
A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低
A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之
A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级
B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级
C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力
D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。

③ 设备能力指数cmk1.67好实现吗

你的问题真有趣...
cmk1.67很好实现！只要设备好、验收标准底...
你的问题就好版比，我能成为大力士吗？
我说权能！
1、你确实是大力士，单手能举起200公斤杠铃...
2、你确实是大力士，单手能举起10公斤杠铃，因为我们的大力士标准是单手能举起大于9公斤杠铃...
理解我的意思了吗？判定一个设备的能力，1是它本身的实力，2是标准...

④ 请问Cmk值（设备能力指数）怎么测算啊

这是一个以SMT(电子行业贴片作业的过程）：

当今产品的普遍趋势是小型化，同时又要增加性能和降低成本，这不可避免地导致在SMT所有领域中的更大的工艺开发。例如，高性能贴装系统的用户希望供应商有新的发展，从而可以大大增加贴装产量，同时又提高贴装精度。就贴装的最重要方面：贴装精度而言，用户都希望所规定的设备参数值可以维持几年不变。这些规定的值通常作为机器能力测试(MCT, machine capability test)的一部分，在供应商自己的地方为贴装机器的客户进行检验。
MCT工艺
贴装系统的标准偏差和标称值的平均值偏差，是贴装精度的两个核心变量，作为MCT的一部分进行测量。MCT是以下列步骤进行的：首先，将某个最少数量的玻璃元件贴装在一块玻璃板上的粘性薄膜上。然后使用一部高精度测量机器来测定所有贴装的玻璃元件在X，Y和θ上的贴装偏差。测量机器然后计算在有关位置轴X，Y和θ上的贴装偏移(标称值的平均值偏差)。
在图一中以图形代表的MCT结果得到如下的核心贴装精度值：
标准偏差 = 8 µm
贴装偏移 = 6 µm

图一、MCT结果的图形表示
通常，我们可以预计贴装偏差符合正态高斯分布，允许变换到更宽的统计基数，如3或4σ。对于经常使用的统计基数，上述指定的贴装系统具有32µm的精度。
将导出的精度与所要求的公差极限相比较，则可评估机器对于一个特殊要求的可适用性。机器能力指数(cmk, machine capability index)已经被证明是最适合这一点的。它通常用来评估机器的工艺能力(process capability)。
一旦上限(USL, upper specification limit)与下限(LSL, lower specification limit)已经定义，cmk可用来计算贴装精度。
由于极限值一般是对称的，我们可以用简化的规格极限SL=USL=-LSL进行计算，如图一所示。
cmk= 规格极限-贴装偏移 3x标准偏差 = 3SL-µ 3σ
以下的cmk结果是针对图一所提出的条件和客户所定义的50µm规格极限。
cmk= SL-µ 3σ = (50-6)µm 24µm =1.83
因此，cmk评估贴装位置相对于三倍的标准偏差值的分散与平均偏差(贴装偏移)。
在实际中，我们怎样处理统计变量σ、cmk和百万缺陷率(DPM, defects per million)？在今天的电子制造中，希望cmk要大于1.33，甚至还大得多。1.33的cmk也显示已经达到4σ工艺能力。6σ的工艺能力，是今天经常看到的一个要求，意味着cmk必须至少为2.66。在电子生产中，DPM的使用是有实际理由的，因为每一个缺陷都产生成本。统计基数3、4、5、6σ和相应的百万缺陷率(DPM)之间的关系如下：
3σ = 2,700 DPM4σ = 60 DPM5σ = 0.6 DPM6σ = 0.002DPM
这里是其使用的一个实际例子：在一个要求最大封装密度的应用中(如，移动电话)，对于0201元件的贴装精度要求可能是75µm。
第一种情况：我们依靠供应商所规定的75µm/4σ的贴装精度。在这种情况中，我们希望在一百万个贴装中，不多于60个将超出±75µm的窗口。
第二种情况：MCT基于某一规格极限产生1.45的cmk。因为1.33的cmk准确地定义一个4σ工艺，我们可以预计得到由于贴装偏差产生的缺陷率低于60 DPM。
贴装偏移的优化
在SMT生产工艺中，如果怀疑在印刷电路板上的整个贴装特性由于外部机械的影响而已经在一个特定方向移动太多，那么贴装设备必须重新校正。因此这个贴装偏移必须尽可能地减少。有大量贴装系统的表面贴装元件(SMD)电子制造商以类似于MCT的方法进行贴装偏移的优化，并使用其它的测量机器。在相关位置轴X、Y和θ上得到的贴装偏移结果手工地输入到贴装系统，用于补偿的目的。
下面描述的是结合在贴装机器内的一种贴装偏移优化方法。
这里想法是要在贴装系统上允许运行一个类似的测量程序，该程序通常是MCT的一部分。目的是，机器找出在X、Y和θ上的贴装偏移，然后以一种不再发生偏移的方式使用。
整个过程是按如下进行的：尽可能最大数量(如48)的玻璃元件使用双面胶带贴装在玻璃板上。每一个玻璃元件在其外边缘上都有参考标记。在板上也有参考标记，紧邻元件的参考标记(图二)。

[img]

图二、找出贴装偏移的原理
在贴装之后，用PCB相机马上拍出板上和元件上相应的参考标记的四张连续的照片。然后把通过评估程序计算出的和用户接受的X、Y和θ贴装偏移传送到有关的机器数据存储区域。再没有必要使用传统的手工位移输入。由于该集成的方法使用了相对测量而不是绝对测量，位置精度与贴装系统的动态反应不会反过来影响结果的质量。只有PCB相机的图象分辨率和质量才是重要的。因此这个所描述的专利方法具有测量机器的特性。
下面的例子显示1.33的cmk可以怎样使用集成的贴装偏移优化来提高至1.92。
假设如下初始条件：
SL = 50 µm
标准偏差 = 8 µm
贴装偏移 = 18 µm
原始 cmk:
cmk= SL-µm 3σ = (50-18)µm 24µm =1.33

[img]http://www3.6sq.net/cdb/pic/UXNz_zrTDMP7Mw==.bmp[/img]

将贴装偏移减少到，比如说，4µm如图三所示，那么cmk的值将有很大改善。
贴装偏移优化之后的cmk：
cmk= SL-µm 3σ = (50-4)µm 24µm =1.92
安装在生产线中的贴片机可以升级到尽可能最高的贴装精度，而不需要复杂的、昂贵的和通常难买到的测量机器。或多或少通过简单按下优化过程的按钮，该贴装系统就转换成一部高精度测量机器。

⑤ 关于生产能力指数法

生产能力指数法又称指数估算法，是指根据已建成的、性质类似的建设项目的投资额和生产能力与拟建项目的生产能力估算拟建项目的投资额的方法。

计算公式：拟建项目的投资额=已建类似项目的投资额 ×（拟建项目的生产能力 / 已建类似项目的生产能力）^n × f

f——综合调整系数，新老项目建设间隔期内定额、单价、费用变更等的综合调整系数；
n——生产能力指数，在正常情况下，0≤n≤1；
（）^n ——（）的n次方。

上式表明造价与规模(或容量)呈非线性关系，且单位造价随工程规模〔或容量〕的增大而减小。

运用这种方法估算项目投资的重要条件，是要有合理的生产能力指数，不同生产率水平的国家和不同性质的项目中，生产能力指数是不相同的。

1、若已建类似项目的规模和拟建项目的规模相差不大，生产规模比值在0．5—2之间，则指数n的取值近似为1；

2、若已建类似项目的规模和拟建项目的规模相差较大，但不大于50倍，且拟建项目规模的扩大仅靠增大设备规模来达到时，则n取值约在0．6—0．7之间；

3、若已建类似项目的规模和拟建项目的规模相差较大，但不大于50倍，且拟建项目规模的扩大靠增加相同规格设备的数量达到时，则n取值为0．8—0．9之间。

生产能力指数法与单位生产能力估算法相比精确度略高，其误差可控制在±20%以内，尽管估价误差仍较大，但有它独特的好处：即这种估价方法不需要详细的工程设计资料，只知道工艺流程及规模就可以；其次对于总承包工程而言，可作为估价的旁证，在总承包工程报价时，承包商大都采用这种方法估价。但要求类似工程的资料可靠，条件基本相同，否则误差就会增大。

生产能力指数法主要应用于拟建装置或项目与用来参考的已知装置或项目的规模不同的场合。

4、生产能力指数法比较简便，计算速度快，但精确度较低，可用于投资机会研究及项目建议书阶段的投资估算。但采用生产能力指数法时，要求类似项目的资料可靠，条件与拟建项目基本相同，否则误差就会增大；且本方法不适用于已建类似项目的规模和拟建项目的规模相差大于50倍的情况。

⑥ 设备能力分析CMK的详细计算公式是什么并有计算公式每个名代号的具体解释，谢谢！

CMK=公差带(上差-下差) 除去6个西格玛×（1-偏移）

西格玛=（实际值减中值）绝对值连加/N个数版

SPC的西格玛：偏移简单权=均值减中值/公差带

⑦ mfu设备能力指数怎么测量

你这个设备能力指数怎么测量的话，他们一般会配备那个操作指南或者说明书进行表述的。

⑧ 过程能力指数必须达多少是可接受的过程

一、对8.2.3条款的理解
8.2.3条款是这样表述的：“组织应采用适宜的方法对质量管理体系过程进行监视，并在适用进进行没蛳。这些方法应证实过程实现所策划的结果的能力。当未能达到所策划的结果时，应采取适当的纠正和纠正措施，以确保产品的符合性”。
这三句话的核心含义：应采用适宜的监视和测量（适用量）质量管理体系的方法证实过程现实所策划的结果的能力。以达到确保产品符合性的目的，据此，可以得出以下结论。
1、过程监视和测量的重点应是产品实现过程。
这一些论可以从ISO9001：2008标准的条款顺序中得到启示。该标准在8.1“总则”中提出了组织在策划并实施所需监视、测量、分析和改进过程的a)、b)、c)三方面。在8.2“监视和测量”中，8.2.1提出了对顾客满意进行监视，将其作为对质量管理体系业绩的一种测量，这主要是针对8.1C)提出的。8.2.2“内部审核”作为一种监视和测量方法，涉及质量管理体系的各个过程，其重点是质量管理体系审核，主要是针对8.1b)提出的。8.2.3和8.2.4条款主要是针对8.1a)提出的。前者从证实过程能力的角度进行监视和测量，从而控制过程质量，确保产品的符合性；后者是对产品的特性进行监视和测量，通过控制实物质量保证放行产品的符合性。在制造业，前者主要属于工艺部门的职能范围，后者主要属于检验部门的职能范围。前者对产品大批量生产，确保产品的符合性特别生要。一旦发现过程能力不满足，检验员就要全检，检验量过大易造成疲劳，会增大错、漏检率；如若增加检验员，则会造成生产成本大幅度提高。
2、所选择的监视和测量方法应能证实过程能力。
多数人对过程能力并不陌生，在ISO9001：1994的4.9条款中，就有“对设备进行适当的维护，以保持过程能力”；“要求预选鉴定过程能力的过程，通常被称为是特殊过程”。ISO9004.1-1994的10.1.1条款也提出“应进行过程能力研究以确定过程的潜在效能“。应该说，这些条款同ISO9001：2008的8.2.3条款有很可的关联性，有助于理解后者。
如果过程能力不足，过程就处于失稳状态，就可能产生不合格。通常，影响过程能力的因素是人、机、料、法、环、测。对这些因素进行分析，对过程能力进行计算，一般都要使用统计技术。ISO9001：2000标准的附录B将8.2.3条款同ISO9001-1994中的4.20.1和4.20.2条款相对照的道理就在这里。笔者认为，似乎还应加上4.9条款，在ISO/FDIS9001：2000中就是这样对应的。ISO9001：2000标准正式发布后，附录B中删去了与4.9条款的对应。对此，可理解为8.2.3“过程的监视和测量”的适用范围扩大了，涉及“质量管理体系所需的过程应当包括与管理活动、资源提供、产品实现和测量有关的过程”（见ISO9001：2008中的4.1注），其重点应是产品实现过程。
通常，制造业对产品实现的过程能力的证实是通过工艺验证实现的。过程能力的目标一般也是由工艺人员策划后确定的。

二、8.2.3条款的实施
8.2.3条款的适用范围和内容界定后，实施方法就容易确定了，通常采用的监视和测量方法如下：
1、通过质量审核
按审核对象的不同，可以将其分为质量管理体系审核、过程质量审核、产品质量审核和服务质量审核等。8.2.3条款指的是过程质量审核。
进行过程质量审核一般从分析人、机、料、法、环、测入手。有的过程还要实施测量，在获得必要的数据后，再应用统计技术进行处理，得出结论。当过程未能达到笄的预定目标时，要针对其原因制定纠正措施，提高过程的能力。
2、过程验证
过程验证的方法很多。在制造业，每一道工序就是一个过程，有些过程只涉及一道工艺。验证方法主要有：
① 工艺试验
如焊接工艺，先由焊接技术人员拟定方案，然后焊接试板，最后进行各种试验评定工艺方法的合理性和正确性。
② 过程能力及其指数测定
在制造业，一般将产品生产过程的过程能力称为工序能力。工序能力反映了该工序在人、机、料、法、环、测受到管理和控制时的实际加工能力。一般将工序能力定量表示为B=6，总体标准偏差。工序能力指数用来定量描述工序能力能否达到产品规定的要求。以产品质量特性值为双向公差的工序能力指数CPK的计算公式为例，T为规定的上下公差界限的差值，S为样本标准偏差，为规定上下公差的分布中心与实际则量公差中心的偏移值。
非定量过程的过程能力指数（或工序能力指数）CPK的计算公式为：
CPK=过程结果的评定/过程所策划的目标
计算过程能力和过程能力指数，要收集、整理有关该过程质量特性值的数据，所以需要运用统计技术。加工工序的工序能力指数计算方法有试切渚SCAT法。前者需要较多数据，后者需要的数据较少。
计算出CPK后，就能评价过程满足产品规定要求的能力了。
当Cpk>1时，过程是稳定的。当CPK<1时，过程处于不稳定状态，容易出现不合格。这时，必须分析原因，采取纠正措施以提高过程能力。
③ 首件检验
每一批产品在加工每一件时，对每一个加工过程都要进行检验，以有效防止成批产品出现不合格。相对于工序能力指数测定而言，这种监视和测量方法只是初步鉴定过程的能力，通常还要安排中间抽查和完工检验。

3、统计过程控制（SPC）
这种方法主要是在生产过程中采集数据，制成控制图，以及时发现过程失稳的征兆，及时采取纠正措施消除不稳定因素。该方法将证实过程能力、报警和采取纠正措施紧密结合起来，对确保产品符合性作用重大。
使用预控制表也有类似控制图的功能，虽然可信度稍低一些，但制作简便，需要的取样数量少，操作者容易掌握。

4、产品验证
通过试生产一件样品，证实这种产品设计文件、工艺安排的合理性和过程能力不是少企业采取的做法。
有些企业为了证实其设计、加工的工装模具能否在生产过程中保证产品质量，往往对该工装模具加工的少量产品进行检验后予以验证。这也是一种对过程能力的产品验证方法。

还有许多进行“过程的监视和测量“的方法，如过程有效性评价、工艺纪律检查等。

⑨ 一般cpk是多少时最稳定

1、1.67 ＞Cpk≥ 1.33的时候，状态是良，能力良好，状态为最稳定。

2、判断标准

A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低

A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之

A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级

B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级

C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力

D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程

3、CPK

CPK在信息安全领域是“Combined Public Key”的缩写，其中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥，为认证系统的芯片化、代理化创造了条件。

4、特性

ECC特性

存储量与密钥规模

ECC遵从IEEE标准。

组合矩阵(Combining-matrix)分为私钥矩阵和公钥矩阵，分割密钥序列(Separating-keysequence )由一定数量的分割密钥(Separating-key)构成，密钥对用(ssk， SPK)标记。

标识密钥(Identity-key)由标识产生，用(isk，IPK)标记。

组合密钥(Combined-key)由标识密钥和分割密钥复合而成，用(csk，CPK)标记。

ECC复合特性

组合公钥体制采用有限域Fp上的椭圆曲线E： y≡ ( x+ ax + b ) mod p，以参数(a， b，G， n， p)定义。其中a， b是系数，a，b，x，y∈p，G为加法群的基点，n是以G为基点的群的阶。令任意小于n的整数为私钥，则r G=R为对应公钥。

ECC复合特性如下：

在椭圆曲线密码ECC中，任意多对公、私钥，其私钥之和与公钥之和构成新的公、私钥对。

如果，私钥之和为：( r1 + r2 + … + rm )modn = r

则对应公钥之和为： R1 + R2 + … + Rm= R (点加)

那么，r和R刚好形成新的公、私钥对。

因为，R = R1 + R2 + … + Rm =r1G + r2G +…+ rmG = (r1 +r2 +…+ rm) G = r G

⑩ cmk设备能力指数多少是合格的

cmk设备能力指数多少是合格的？没有一个标准的说法！
一般情况下，我们在采购精密加工回设备的时候答，会在合同条款上附加：
“关键加工能力cm≥2，cmk≥1.67”，该标准在设备调试好后，与设备供方一起测量、验证。