测量设备的控制限是怎么算的

❶ 控制图的上下控制限在哪些情况下要重新计算

在一个过程的控制限固定下来后，不能随意调整，只有当该过程的5M1E中有比较大的调整时，才考虑重新收集数据，计算新的控制限。

❷ 控制图上下控制界限的怎么确定

控制图上下控制界限通常设定在±3标准差的位置。

图上有三条平行于横轴的直线：中心线（CL，Central Line）、上控制线（UCL，Upper Control Line）和下控制线（LCL，Lower Control Line），并有按时间顺序抽取的样本统计量数值的描点序列。

UCL、CL、LCL统称为控制线（Control Line），通常控制界限设定在±3标准差的位置。中心线是所控制的统计量的平均值，上下控制界限与中心线相距数倍标准差。若控制图中的描点落在UCL与LCL之外或描点在UCL和LCL之间的排列不随机，则表明过程异常。

根据统计数据的类型不同，控制图可分为：计量控制图和计数控制图（包括计件控制图和计点控制图）。它们分别适用于不同的生产过程。每类又可细分为具体的控制图，最初主要包含七种基本图表。

一、计量型控制图包括：

1、 IX-MR（单值移动极差图）

2、 Xbar-R（均值极差图）

3 、Xbar-s（均值标准差图）

二、计数型控制图包括：

1、 P（用于可变样本量的不合格品率）

2、 Np（用于固定样本量的不合格品数）

3、 u（用于可变样本量的单位缺陷数）

4、c（用于固定样本量的缺陷数）

利用样本的平均值及极差R推断总体的μ和σ时，由于总体构成的不均匀性以及抽样误差的存在，及R的变化同μ及σ的变化并不完全一样，即使在工序处于稳定状态下，μ及σ本身并无异常变化，但从工序中抽取样本的及R也是有所变化的也就是说，及R 都是随机变量，都有其特定的概率分布。

它们各自的概率分布与总体分布既有一定的内在联系，又与总体分布不完全相同。在过程控制中，虽然通常依据一次抽样的结果进行一次统计推断，但由此所得出的结论却是建立在大量观测结果所遵循的统计规律的基础上的，是依样本统计量的概率分布来描述总体概率分布过程的。

(2)测量设备的控制限是怎么算的扩展阅读：

为了方便记忆，下面总结了控制图判异的八个准则：

1、准则1：1个点子落在A区以外（点子越出控制界限）；

2、准则2：连续9点落在中心线同一侧；

3、准则3：连续6点递增或递减；

4、准则4：连续14点中相邻点子总是上下交替；

5、准则5：连续3点中有2点落在中心线同一侧B区以外；

6、准则6：连续5点中有4点子落在中心线同一侧C区以外；

7、准则7：连续15点落在中心线同两侧C区之内；

8、准则8：连续8点落在中心线两侧且无1点在C区中。

❸ 仪器的允许误差值怎么定

允许误差为绝对误差的最大值，仪表量程的最小分度应不小于最大允许误差。技术标准,检定规程等对计量器具所规定的允许的极限值。

最大允许误差：对给定的测量仪表，规范、规程等所允许的误差极限值。指在规定的参考条件下，测量仪器在技术标准、计量检定规程等技术规范上所规定的允许误差的极限值。

这里是误差极限值，所以实际上就是测量仪器各计量性能所要求的最大允许误差值。可简称为最大允许误差，也可称为测量仪器的允许误差限。最大允许误差可用绝对误差、相对误差或引用误差等来表述。

多量程的仪器，按照各量程的准确度等级分别进行计算，如：

“0~300mv 的精度为 0.025%+2digits ”的允差为300*0.025%+2个读数（看实际分辨力而定）mV

“300mv~3V的精度为 0.025%+4digits”的允差为（3000-300）0.025%+4个读数mV

其它量程的也是这样进行计算。

(3)测量设备的控制限是怎么算的扩展阅读：

最大允许误差可以用绝对误差、相对误差、引用误差或它们的组合形式表示。

（一）用绝对误差来表示最大允许误差

例如，标称值为1Ω的标准电阻，说明书指出最大允许误差微±0.01Ω，即表示示值误差的上限为+0.01Ω，示值误差下限为－0.01Ω，表明还电阻器的电阻值允许在0.99Ω~1.01Ω范围内。

（二）用相对误差表示的最大允许误差，是其绝对误差与相应示值之比的百分数。

例如，测量范围为1mV~10V的电压表，气允许误差限为±1%。在这种情况下，测量范围内每个示值的绝对允许误差限是不同的，如1V时，为±1%×1V=±0.01V，而10V时，为±1%×10V=±0.1V。

最大允许误差总相对误差形式表示，有利于在整个测量范围内的技术指标用一个误差限来表示。

❹ QC七大手法 控制图中的上下限 是怎么计算出来的

不同的管理图管理上下线不同
X-R管理图中x的
上限=总平均+A2*R平均
下限=总平均-A2*R平均
A2的值根据定数表查值。
R管理图的
上限为D4*R平均
下线为D3*R平均
D3,D4根据定数表查值

❺ SPC控制图中的控制上限是怎么计算的

请参考下图，根据你的具体情况，查询系数表计算后得到你要的控制限。

❻ SPC控制图中的控制上限是怎么计算的

对于计量值来说，是平均值加3倍sigma!

❼ 根据CPK=1.67 怎样计算控制限或控制限的计算公式

公差上限 USL 100.40 输入上限值
公差下限 LSL 100.00 输入下限值
规格中心 U (USL+LSL)/2 100.2
规格公差 T USL-LSL 0.4
平均值 X Average(B2:F26) 100.23
标准差 σ STDEV(B2:F26) 0.06
最大值 Max MAX(B2:F26) 100.34
最小值 Min Min(B2:F26) 100.00
CPKU ( USL-X ) / 3σ 0.91
CPKL ( X -LSL )/ 3σ 1.28
CPK Min(CPKU ,CPKL) 0.91
PPM (1-Norm.S.Dist(3*Cpk,ture))*1000000 3242
Cp 离散趋势精确度 (USL-LSL) / 6σ 1.10
Ca 集中趋势精确度 (X-U)/(T/2) 0.17
Cpk Cp * ( 1 - |Ca|) 0.91

❽ 请教：单边规格的控制限怎么计算啊

控制图来源于实际过程，单从控制图角度来说，跟规格限可以说是没关系。
另外，Xbar-R控制图是否合适，跟是否单边规格，关系也不太紧，看你过程的产出、成本、效率、控制对象等。说白了还是来源过程的。如果用Xbar-R控制图，计算方式不用变化的。
只有评估过程能力的时候才会考虑单边规格或双边的影响，单边和双边的计算方式略有差异，你可以查下就知道。最后谈一点，个人理解控制图主要针对生产企业来说的，客户一般更关注过程能力，毕竟过程能力和最终交付关系最紧密

❾ 请教控制图上下控制界限的确定

控制图上下控制界限通常设定在±3标准差的位置。图上有三条平行于横轴的直线：中心线、上控制线和下控制线，并有按时间顺序抽取的样本统计量数值的描点序列。

UCL、CL、LCL统称为控制线，通常控制界限设定在±3标准差的位置。中心线是所控制的统计量的平均值，上下控制界限与中心线相距数倍标准差。若控制图中的描点落在UCL与LCL之外或描点在UCL和LCL之间的排列不随机，则表明过程异常。

(9)测量设备的控制限是怎么算的扩展阅读

控制图作用

在生产过程中，产品质量由于受随机因素和系统因素的影响而产生变差；前者由大量微小的偶然因素叠加而成，后者则是由可辨识的、作用明显的原因所引起，经采取适当措施可以发现和排除。当一生产过程仅受随机因素的影响，从而产品的质量特征的平均值和变差都基本保持稳定时,称之为处于控制状态。

此时,产品的质量特征是服从确定概率分布的随机变量，它的分布(或其中的未知参数)可依据较长时期在稳定状态下取得的观测数据用统计方法进行估计。分布确定以后，质量特征的数学模型随之确定。为检验其后的生产过程是否也处于控制状态，就需要检验上述质量特征是否符合这种数学模型。

为此，每隔一定时间，在生产线上抽取一个大小固定的样本，计算其质量特征，若其数值符合这种数学模型，就认为生产过程正常，否则，就认为生产中出现某种系统性变化，或者说过程失去控制。

这时，就需要考虑采取包括停产检查在内的各种措施，以期查明原因并将其排除，以恢复正常生产，不使失控状态延续而发展下去。 通常应用最广的控制图是W.A.休哈特在1925年提出的，一般称之为休哈特控制图。

参考资料来源：网络—控制图