『壹』 精密仪器之X射线荧光光谱仪
简介：
X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。
使用型态：
XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素碰庆雹之内层电子被击出后，造成核笑帆外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。
X射线荧光的物理原理：
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐差伏内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质放射出的辐射，这是原子的能量特性。
X射线荧光光谱法在化学分析：
主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪，可以分析从轻元素的钠（z=11）到铀，而波长分散式则为从轻元素的硼到铀。
『贰』 如何正确使用手持式光谱仪（手持式合金分析仪）
浪声手持式光谱仪生产厂家以专业的角度告诉大家如何使用这款光谱仪器。
手持式光谱仪在使用的时候，对于环境是有一定的要求，不要在潮湿的环境下工作的，环境湿度0-95%之间为最好，不能在太高温下操作工作，这样的理由是避免各类磁场的干扰，如此仪器分析的时候才能检测出更精确的精度。所以，大家在工作的时候要注意环境的适合度，很多时候仪器检测不标准跟环境还是有很大程度上的关系。
一、手持式光谱仪对于操作人员也是要一定要求的，测试样品前一定要请仪器厂商的技术人员现场演示，并且对技术人员做操作前的培训。因为这款仪器是检测元素，那么一定会要做放样检测，这对人体来说是有一定的为还在用，所以，技术人员还需要做好防辐射。
二、对仪器操作的技术人员在使用仪器检测样品的时候，先要把仪器前方的圆孔对准需要检测样品的点，仪器要贴在上面，在扣动扳机开始检测的时候，技术人员的手一定不能抖动或偏动，否则会影响到检测的数据结果。
三、对于检测的样品也要一些小要求，被测的物品表面必须光滑、整洁，如此才能避免其他元素的干扰被测物品的表面是有油污，或重金属污染，如此检测出来的结果精确度就没那么高，如何仪器都不是万能的。
其实，手持式光谱仪的操作看起来很复杂，但是按照技术人员的指示一步步去操作，就没你想的那么复杂了。
『叁』 XRF镀层测厚仪的原理是什么
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。
2、XRF镀层测厚仪：
俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
功能：精密测量金属电镀层的厚度。
应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。